KEYSIGHT

Equipo, sistemas y aparatos de medida, señalización y prueba electrónicos, y las partes y componentes de los mismos (comprendidos en la clase); equipo, instrumentos y aparatos ópticos y de imagen, y las partes y componentes de los mismos (comprendidos en la clase); equipo, instrumentos y aparatos científicos y de laboratorio, y las partes y componentes de los mismos (comprendidos en la clase); equipo, instrumentos y aparatos eléctricos y electrónicos (comprendidos en la clase), y las partes y componentes de los mismos (comprendidos en la clase); láseres que no sean para uso médico; microscopios; aparatos de monitoreo; aparatos de grabación; procesadores; microprocesadores; detectores; sensores (comprendidos en la clase); transmisores; receptores; aparatos de control remoto; aparatos para el control de movimiento; computadoras; hardware de computadoras; periféricos de computadoras; software de computadoras; programas de computadoras; dispositivos para el almacenamiento de datos; aparatos para el procesamiento de datos; fuentes de alimentación eléctrica; fuentes de alimentación eléctrica y sistemas de alimentación eléctrica utilizados para alimentar y probar el funcionamiento de los equipos y dispositivos bajo prueba que proporcionan varios niveles de potencia a los equipos electrónicos; fuentes de alimentación eléctrica programables y sistemas de conducción de energía eléctrica para simular diferentes condiciones de funcionamiento de los equipos electrónicos; dispositivos semiconductores, reivindicando la prioridad de la solicitud N° 86/102,276 presentada el 25 de octubre de 2013 en ESTADOS UNIDOS DE AMERICA; equipo, sistemas, instrumentos y aparatos de prueba a nanoescala, fotónicos y optoelectrónicos de medida, de imagen, de señalización, y las partes, componentes y accesorios de los mismos (comprendidos en la clase); componentes e instrumentos de comunicación ópticos y electrónicos, a saber, probadores de enlaces de comunicación y aparatos de pruebas de integridad de línea de telecomunicaciones; equipos de prueba automática para circuitos integrados, tarjetas de circuitos integrados y equipos electrónicos, a saber, probadores automatizados de inspección óptica (aparatos de inspección); láseres para fines de medición que no sean para uso médico y los accesorios de los mismos (comprendidos en la clase), a saber, combinadores láser monolíticos, cabezales láser, divisores de haz, dobladores de haz, traductores de haz, catadióptricos, bases ajustables, espejos planos, convertidores de espejos planos, reflectores de espejos planos y espejos de inflexión; aparatos analizadores de medidas y de fuentes de alimentación; monitores de calidad de potencia para sistemas, instrumentos y aparatos industriales y electrónicos, sin reivindicar prioridad